影響(xiang)K型熱電偶(ou)測溫的兩(liang)種因素

1、短(duan)程有序結(jie)構變化(K狀(zhuang)态)的影響(xiang)K型熱電偶(ou)在250℃—600℃溫度⛹🏻‍♀️範(fan)圍内使用(yong)時，由于其(qi)顯微結構(gou)發生變化(hua)，形成短程(cheng)有序結構(gou)，因💑🏾此将影(ying)響熱電勢(shi)值而産生(sheng)誤差，這就(jiu)是所謂的(de)K狀态。它是(shi)Ni—Cr合金特有(you)的晶格變(bian)化，當Cr含量(liang)在5—30%範圍…内(nei)存在着原(yuan)子晶格的(de)有序無👽序(xu)轉變。由👿此(ci)而引起的(de)誤差，因Cr含(han)量及溫度(du)的不ˇ同而(er)變化。将K型(xing)熱電偶從(cong)300℃加熱至800℃，每(mei)50℃取一點，測(ce)量該點電(dian)勢🛌🏻。在450℃時🤶🏾偏(pian)差最大可(ke)達4℃，在350—600℃範圍(wei)内，均爲正(zheng)偏😮‍💨差。由于(yu)K狀态的存(cun)在，使K型熱(re)電偶在🧛🏽升(sheng)溫或降溫(wen)檢定結果(guo)不一緻，故(gu)在廉金屬(shu)熱電偶檢(jian)定規程👩🏼‍❤️‍👨🏾中(zhong)明文規定(ding)檢定順序(xu)：由低溫向(xiang)高溫逐點(dian)升溫檢定(ding)。而且在400℃檢(jian)定點，不僅(jin)傳熱效果(guo)不佳，難以(yi)達到熱平(ping)衡，而且，又(you)恰好處于(yu)K狀态誤差(cha)最大範圍(wei)。因此，對該(gai)點判定合(he)格與否時(shi)應很慎重(zhong)。Ni—Cr合金短程(cheng)有序結構(gou)變化的現(xian)象，不僅存(cun)在于K型，而(er)且，在E型🛌🏻熱(re)電偶正極(ji)中也有此(ci)現象。但是(shi)，作爲變化(hua)量E型熱電(dian)偶僅爲K型(xing)的2/3。總之，K狀(zhuang)态與溫度(du)、時👩🏼‍❤️‍👨🏾間有關(guan)，當溫度分(fen)布或熱電(dian)偶位置變(bian)化時，其偏(pian)差也會發(fa)生很大變(bian)化。故難以(yi)對偏差大(da)小作出準(zhun)确評價。