影響K型(xíng)熱電偶(ǒu)測溫的(de)兩種因(yin)素

1、短程有(you)序結構(gòu)變化(K狀(zhuang)态)的影(yǐng)響K型熱(re)電偶在(zài)250℃—600℃溫度範(fàn)圍内👈使(shi)用時，由(you)于其顯(xian)微結構(gou)發生變(biàn)化，形成(chéng)短程有(you)序結構(gòu)，因此将(jiāng)影響⛷️熱(re)電勢值(zhi)而産生(sheng)誤差，這(zhè)就是所(suǒ)謂的K狀(zhuang)态。它是(shì)🚶‍♀️Ni—Cr合金特(te)有的晶(jing)格變化(hua)，當Cr含量(liàng)在5—30%範圍(wei)🏒内存在(zai)着原子(zǐ)晶格的(de)有序無(wú)序轉變(bian)。由👅此而(er)引起的(de)✌️誤差，因(yīn)Cr含量及(ji)溫度的(de)不同而(ér)變化。将(jiang)K型熱電(dian)偶從300℃加(jiā)🌐熱至800℃，每(měi)50℃取一點(dian)，測量該(gai)點電勢(shì)🌐。在450℃時偏(pian)差最大(dà)可達4℃，在(zai)350—600℃範圍内(nei)，均爲正(zheng)偏差。由(yóu)于K狀态(tai)的存在(zài)，使K型熱(rè)電偶在(zai)升溫或(huo)降溫檢(jian)定結果(guo)不一緻(zhi)🐪，故在廉(lian)金屬熱(rè)電偶檢(jiǎn)🔞定規程(chéng)中明文(wen)規定檢(jiǎn)💚定順🥰序(xù)：由低溫(wen)向高溫(wēn)逐點升(shēng)溫檢定(ding)。而且在(zai)400℃檢定點(diǎn)，不僅傳(chuan)熱效果(guǒ)不佳，難(nan)以達到(dào)熱平衡(heng)，而且，又(you)恰好處(chù)于K狀态(tai)誤差最(zui)大範圍(wéi)。因此，對(duì)❤️該點判(pàn)定合格(ge)與否時(shi)應很慎(shèn)💘重。Ni—Cr合金(jin)短程有(yǒu)序結構(gòu)變化的(de)現象，不(bú)僅存在(zài)于K型，而(ér)且，在E型(xíng)熱電偶(ou)正極中(zhong)也有此(cǐ)現象。但(dàn)✉️是，作爲(wei)變化量(liàng)E型熱電(diàn)偶僅爲(wei)K型的2/3。總(zong)之，K狀态(tai)與溫度(dù)、時間有(yǒu)關，當溫(wēn)度分布(bu)或熱電(diàn)偶位置(zhì)變化時(shí)，其🈲偏差(cha)也會發(fā)生很大(da)變化。故(gù)難以對(dui)偏差大(da)🧑🏾‍🤝‍🧑🏼小作出(chū)準确評(ping)價。